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鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀thick8000

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀thick8000采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

Thick600型鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀

QQ截圖20170815154012.jpg

鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀是天瑞儀器實惠的鍍層測厚儀;儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測,配置的軟件界面簡潔,測試樣品用時40S,售后服務(wù)可靠及時。

 

分析原理

 

鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

 鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005

2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005

3、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

 

性能特點    

                                   

1. *穩(wěn)定X銅光管;

2.半導(dǎo)體硅片電制冷探測器,摒棄元素識別能力較弱的計數(shù)盒;

3.內(nèi)置天瑞儀器研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強器(SNE)與MCA多道分析器;

4.內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時觀測樣品;

5.脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確;

6.手動開關(guān)樣品腔,操作安全方便;

7.三重安全保護模式;

8.整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型簡潔;

9.FP軟件,無標(biāo)準(zhǔn)樣品時亦可測量。

測量標(biāo)準(zhǔn)

 

1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

樣品測試步驟

1)              每天開機預(yù)熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”:

用戶使用“Administrator”,密碼:skyray

2)              進入測試軟件后,選擇“測試條件”

點擊“確定”,即測試條件確定(儀器已設(shè)置好)

3)              選擇“工作曲線”

如待測樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推

4)              放入“Ag片”對儀器進行初始化

初始化完成后,(峰通道為1105,計數(shù)率達到一定的數(shù),如300以上)。

5)              待測樣品測試

放入待測的樣品,通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱十字光標(biāo))來定位該聚焦點,將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”,輸入樣品名稱后“確定”。

6)              測試完成后即可保持報告,報告的位置可以在桌面的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。

注意:測試鍍層樣品時,必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應(yīng)的工作曲線測試。

 

Thick8000型鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀

QQ截圖20170815152856.jpg

鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

 

儀器配置                                            

1    硬件:主機壹臺,含下列主要部件: 

(1)   X光管                 (2) 半導(dǎo)體探測器

(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺

(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)

(7) 上照、開放式樣品腔      (8)雙激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2   軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

3   計算機、打印機各一臺

計算機(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(佳能,彩色噴墨打印機)

4   資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。

 

性能特點

 

1.精密的三維移動平臺; 

2.的樣品觀測系統(tǒng); 

3.*的圖像識別; 

4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測; 

5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換; 

6.雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞; 

7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度。

安裝要求:

1   環(huán)境溫度要求:15℃-30℃

2   環(huán)境相對濕度:<70%

3   工作電源:交流220±5V

4   周圍不能有強電磁干擾。

 

參數(shù)規(guī)格

 

1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U); 

2.同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層;

3.分析含量:一般為2ppm到99.9%;

4.鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);

5.SDD探測器:分辨率低至135eV;

6.*的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm;

7.樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭; 

8.準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合; 

9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;

10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;

11.樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm;

12.X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;

13.X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度:小于0.1um;

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