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金鎳厚測試儀

更新時間:2020-04-13

簡要描述:

金鎳厚測試儀是一款的X射線原理的無損測試儀器,可以同時測試金層、鎳層的厚度,同時也可以測試鋅層、錫層、銀層的厚度,多一次可以測試5層,thick8000是天瑞儀器目前端的鎳金厚測試儀,基本實現(xiàn)智能化操作,基本培訓(xùn)即可上崗使用。

金鎳厚測試儀性能優(yōu)勢

 

精密的三維移動平臺

的樣品觀測系統(tǒng)

*的圖像識別

輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測

四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換

雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞

采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

 

全自動智能控制方式,一鍵式操作!

開機自動自檢、復(fù)位;

開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣;

關(guān)蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦;

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點;

點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結(jié)果。

 

金鎳厚測試儀技術(shù)指標(biāo)

 

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U)

同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層

分析含量:一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)

SDD探測器:分辨率低至135eV

*的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭

準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合

儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度:小于0.1um

操作環(huán)境濕度:≤90%

操作環(huán)境溫度:15℃~30℃

 

應(yīng)用領(lǐng)域

 

PCB電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測機構(gòu)以及研究所和高等院校等;

 

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深圳市天瑞儀器有限公司

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