更新時間:2020-04-13
X光金屬鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量,鍍層元素種類及含量的快速無損分析的需求,特別設(shè)計該款儀器,其特點可以概括以下幾點:1、上照式2、測試組件可升降3、小準(zhǔn)直器4、高分辨率探頭5、自動定位高度6、測試口安全防護(hù)7、良好的射線屏蔽8、超大樣品腔設(shè)計
產(chǎn)品介紹
X光金屬鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量,鍍層元素種類及含量的快速無損分析的需求,特別設(shè)計該款儀器,其特點可以概括以下幾點:1、上照式2、測試組件可升降3、小準(zhǔn)直器4、高分辨率探頭5、自動定位高度6、測試口安全防護(hù)7、良好的射線屏蔽8、超大樣品腔設(shè)計
產(chǎn)品性能
1、小準(zhǔn)直器:≤0.1,可以進(jìn)行小樣品測試(小點)的測試,從而提高測試的準(zhǔn)確率和精確度。
2、高度激光:自動定位高度,可滿足不規(guī)則表面樣品的測試
3、高分辨率探頭:提高分析的準(zhǔn)確性。
產(chǎn)品配置
X光金屬鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為:X射線管,正比計數(shù)器半導(dǎo)體探測器,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。
性能指標(biāo)
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線管:管電壓50KV,管電流1mA
可測元素:Ti~U
檢測器:正比計數(shù)管
樣品觀察:CCD攝像頭
測定軟件:薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm
產(chǎn)品應(yīng)用
主要應(yīng)用于金屬鍍層(鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠、鍍鈀、鍍銀、鍍金、鍍鉻等)厚度測試,廣泛應(yīng)用于線路板、板材、汽車配件、五金工具、彈簧、電子連接器、五金端子、螺絲、半導(dǎo)體封裝材料等產(chǎn)品鍍層厚度測量。
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