更新時間:2020-04-13
鍍層分析儀是一款利用X射線原理對金屬鍍層(鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠……)厚度進行無損檢測的儀器,thick800a利用上照式方式,滿足微小產(chǎn)品的測試,主要應(yīng)用于精密五...
產(chǎn)品介紹
鍍層分析儀是一款利用X射線原理對金屬鍍層(鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠……)厚度進行無損檢測的儀器,thick800a利用上照式方式,滿足微小產(chǎn)品的測試,主要應(yīng)用于精密五金、電子連接器、五金端子、螺絲等產(chǎn)品的厚度檢測。
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
性能特點
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
測試口高度敏感性傳感器保護
技術(shù)指標(biāo)
型號:Thick 800A
分析檢出限可達2ppm,薄可測試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9%
X熒光測厚儀元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
一次可同時分析多24個元素,五層鍍層。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復(fù)性可達0.1%
*工作穩(wěn)定性可達0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
應(yīng)用領(lǐng)域
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
鍍層分析儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍企業(yè)、半導(dǎo)體企業(yè)、電子連接器、五金工具企業(yè)、電子電器企業(yè)。
可以測試黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
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